Текст
                    

Государственный комитет СССР по народному образованию Московское ордена Ленина, ордена Октябрьской Революции и ордена Трудового Красного Знамени высшее техническое училище имени Н. Э, Баумана Ю. В. ГОЛУБЕНКО, Ю. В. ИВАНОВ ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ЛАЗЕРЫ Методические указания к выполнению лабораторых работ по курсу «Основы физики лазеров» Москва 1988

Государственный комитет СССР по народному образованию Московское ордена Ленина» ордена Октябрьской Револугиух и ордена Трудового Красного Знамени высшее техническое училище им. Н.Э.Баумана Ю.В.Голубенко, Ю.В.Иванов Утверждены редсоветом МВТУ ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ЛАЗЕРЫ Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу ’’Основы физики лазеров” Под редакцией А.Г.Григорьянца .7 1968 Москва
_ .прения издастся в соответствии с и г,-в-ет ческим управлением II.OI.ee. Рождествин В. И, Рецензент д.т.н., проф. техническое училище им. Н.Э. Баумана Редактор В,В. Потапова Корректор Н.Г. Ковалевская Заказ о Объем 1,5 п.л.(1,4 уч.-изд,л«) Тираж 150 экэ. Бесплатно, Подписано в печать 21Щ.88 г. План 1908 г* t >28* Типография МВТУ. 107005, Москва, Б-5, 2-я Бауманская. 5.
ПРЕДИСЛОВИЕ В данных методических указаниях представлены лабораторные работы по ризине спим основам твердотельных лазеров. Лаборатор- ные работы закрепляют полученные студентами теоретические зна- ния и дают навыки работы с лазерными системами. Дисциплина "Основы эики лазеров" является одной юших в подготовке студентов. из профилируй Кавдая лабораторная работа рассчитана на 4 ч и проводится группой студентов из 3-4 человек с индивидуальной обработкой полученных результатов. Каждая работа заканчивается составле- нием отчета и ообоседованием преподавателя со студентами. Отчет должен содержать: наименование, цели и задачи лабораторной рабо- ты, порядок ее выполнения, краткую характеристику применяемого оборудования и приборов, схемы, экспериментальные результаты в виде таблиц и графиков, выводы по каждому эксперименту. В про- цессе собеседования студенты должны показать понимание физичес- кой сущности полученных экспериментальных результатов. Внимание! Без изучения инструкции по технике безопасности к работам не приступать! Разрешение на проведение экспериментальной части работы дает преподаватель или учебный мастер. Работа Я I. ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАЗЕРА НА РУБИНЕ Цель работы - изучить физические принципы работы лазера, ис- следовать временные,энергетические,пространственные и поляриза- ционные характеристики излучения лазера. Теоретиче скал часть Впервые лазерное излучение из твердой среды было получено на рубине. Рубин представляет собой матрицу окиси алюминия Л с примесью ионов + • Благодаря большей механической прочнос- ти и теплопроводности, возможности выращивания образцов высоко— 3
ГО оптического качества, рубин широко используется на практике Глазерннх системах. На рис. I приведена схема уровней иона хро- ма в рубине. В процессе оптической накачки возбуждаются состояния J у , . Метастабильные уровни 2 А и £' играют роль верхних рабочих уро— вней. Нижний рабочий уровень'’Д,одно- ' временно является основном. Лазер на Р3тбине описывается трехуровневой ра- бочей схемой. В лазерах на рубине в основном “□ульсная оптическая не- когерентная накачка. Оптическая на- качка предполагает возбуждение акти- вных центров при поглощении активной средой излучения от неко- торого специального источника света. Использование импульсной накачки в лазерах на рубине имеет ряд преимуществ. При импуль- сной накачке становится необязательным быстрое очищение нижне- го рабочего уровня. Инверсия реализуется в начале импульса воз- ЯЛ II Рис, I Рис. 2 (рис. 2). Кривая I характе- буждения в течение промежутка I ризует заселенность нижнего рабочего уровня; 2 - заселенность верхнего уровня; 3 - импульс возбуждения. Импульсная накачка легче реализуется технически, позволяет осуществлять различные импульсные режимы генерации: свободная генерация, генерация ги- гантских импульсов при активной и пассивной модуляции доброт- ности, синхронизация продольных мод (генерация сверхкоротких импульсов). В настоящей лабораторной работе исследуется режим свобод- ной генерации; в резонаторе лазера находится только активный
8ЛвМ41Нт и отсутствуют нелинейные влементы или »лвмвнты, ства которых изменяются под воздействием внешних сигналов. ^^лериментальная часть Рис. 3 Деред выполнением лабораторной работы изучить функциональ- ную схему лабораторной установки (рис. 3), назначение и порядок работы приборов. На рис. 3:1 — активный элемент-рубшт; 2— ла- мпа накачки ИФП-1200: 3 - глухое зеркало резонатора; 4 - выход- ное зеркало резонатора; 5 - блок in тания и охлаждения; 6 - ге- нератор Г5-54; 7 - делительная пластина; 8 - фотоприемник ФЭУ- 62; 9 - осциллограф СВ—12; 10 - линза I м); II - измеритель энергии ИМО-2Н; 12 - юстировочный лазер ЛГ-66; 13 - диафрапла; 14 - фотодиод ФД-24К; 15 - ослабители; 16 - поляризационный фильтр. Затем осуществить юстировку оптической схомы стенда, вклю- чить и дать прогреться в течение 30 мин всем приборам. Часть I, Исследование временных характеристик Для исследования временных характеристик излучения лазера часть выходного излучения с помощью пластины 7 ответвляется на приемник оптического излучения ФЭУ-62. По второму каналу осцил- лографа регистрируется форма импульса излучения лампы накачки с 5
помощью фотодиода. Для синхронизации начала развертки осциллографа с началом импульса накачки синхроимпульс от источника питания поступает на линию задержки генератора Г5-э4, а с его выхода - на вход управления разверткой. I. Просмотреть и зарисовать с экрана осциллографа осцилло- грамму временной зависимости выходной энергии излучения и светового импульса лампы накачки для разных значений • Эне- ргия накачки определяется энергией, ^запасенной в емкостных накопителях, и рассчитывается так: » где - напря- жение на накопителе, В; С - емкость накопительного конденсато- ра, С » 600 мкФ. рения (рис. 4) для разных где по - количество дичков на Для определения Тг U/ накачки: ~, 71 = -7— / ' ср отрезке t 4 лич необходимо подобрать скорости развертки и время ее задержки, при которых на экрана оо.т^иллог- TS Л X » — ——_ —- -- чков. л--------’JT рафа регистрируется не менее 10 не перекрывающихся I в Часть 2. Исследование энергетических, про стр запио и co те стик I I. Снять зависимость Рассчитать полный КПД - КПД источника лазера но формуле КПД С И/7 • гае ? уун С ып ги'.
таиия, ^»0,8. Построить зависимость КПД 2» Рассчитать среднюю импульсную мощность личка в пачке при тех хе значениях й4 на основании проделанных экспери- ментов в 1-й части т <7> ~ I £ Зо Определить расходимость в лазерного излучения мето- дом фокального пятна, используя черную копировальную бумйгу; ~ , где CL - радиус прожигаемого отверстия; Р - фокус линзыв 4. Снять и построить зависимость используя по- ляризационный фильтр, где Сх - угол, характеризующий ориента— цию плоскости поляризации фильтра. Рассчитать степень поляри- зации излучения лазера на рубине 5. Выключить все приборы по инструкции. Контрольные вопросы 1„ По какой схеме работает лазер на рубине? 2, Почему в лазере на рубине в основном используется им-' пулъсная накачка? Каковы преимущества импульсной накачки? 3» Чем отличается накачка газовых лазеров от накачки твер- дотельных лазеров? 4. При каких условиях в резонаторе может возникнуть гене- 5. Какие существуют методы измерения расходимости лазерно- го излучения? 6. С чем связана расходимость лазерного излучения? 7 * Чем отличаются расходимости между газовыми и твердотель- ными лазерами? 8. Как рассчитывается степень поляризации излучения'
Работа М 2. ИССЛЕДОВАНИЕ ТВЕРДОТЕЛЬНОГО ЛАЗЕРА НА д ПГМОИТТРИЕВОМ ГРАНАТЕ С НЕОДИМОМ W.Nd3^ цель работы - изучить дриндап работы и конструкцию лазера, исследовать энергетические характеристики лазера и влияние па- раметров резонатора на процессы генерации. Теоретическая часть Рассматриваемый .тазер на АИГ: М3+ работает по 4-уров- невой схеме . где перехода 4-3 и 2-1 - безызлучательные. Рабо- 1,06 мкн 11,5'103см 2,2'fQcM Рио. I Vi активной среды $г. чим переходом является переход 3-2 (рис. I). В связи с быст- рым очищением нижнего рабочего уровня 2 лазер имеет сравнитель- но низкий порог возбуждения. Создание инверс - необходимая предпосылка для реализации в лазере режима гене- рации. Для создания и поддержания инверсия в лазере с непрерыв- ной генерацией используется непрерывная нвкогерентная оптичес- кая накачка активной среды с помощью газоразрядных ламп накач- ки. Принципиально важным элементом лазера является оптический резонатор, основная функция которого - формирование ’ поля излучения с определенными энергетическими параметрами,
спектральное и пространственно-временной структурой. Для обеспечения генерации в лазере необходимо выполнение неравенства , т.е. начальный коэффициент усиления олжен превышать уровень потерь в резонаторе, который определя- ется суммой коэффициентов вредных и полезных П потерт Чем больше это превышение, тем больше генерируемая световая <ощ- ть. Порог генерации определяется равенством *, — •} ,+угл По- лезные потери обусловлены уходом части энергии из резонатора в иде лазерного излучения, вредные потери - возникновением неод- ородностей оптических свойств элементов лазера при генерации, дифракционными потерями, потерями в зеркалах резонатора, в са- мом активном элементе и т.д. Для повышения мощности генерации необходимо снижать потери в резонаторе9 можно снизить полезные потери, увеличивая ко- эффициент отражения выходного зеркала . Однако чрезмерное его увеличение приводит к снижению доли генерируемого из резо- натора излучения. Следовательно, должно существовать оптималь- ное значение гае < - длина тивного элемента. Необходимо по возможности снижать вредные по- тери. На величину дифракционных потерь существенное влияние ока- зывают тип резонатора, его длина и качество юстировки, размер зеркал. В результате неравномерного по объему отвода тепла от активного элемента, кроме возникновения оптических неоднородно- стей коэффициента преломления, в нем может наводиться тепловая линза, которая приводит к изменению геометрии распространения излучения в резонаторе, а в итоге к снижению выходной мощное или даже срыву генерации. ин Ё1» Описание лабораторной установки Лабораторная установка построена на базе твердотельного лазера на АЙГ: Md 5t ЛТИ-5О2 (рис. 2) и вюлочает в себя источ- ник питания ИП 9 с устройством охлаждения УО; плоскопараллель- ный оптический резонатор, образованный глухим зеркалом 5 ( <- - = 0) и выходным сменным зеркалом 6; квантрон с активным элемен том 3 и лампой накачки 4, Для юстировки оптической системы слу- жит Не -Me ^азвР ЛГ-SG'1 с диафрагмой 2. Выходная мощность 7 измеряется с помощью ИМ0--2Н с ослабителем 8. При генерации
Рис. 2. Экспериментальная часть ИМ0-2Н. лазера на ЛИГ: Nd3Необходимо закрывать выходное зеркало ЛГ-66 от излучения экраном. I. Ознакомиться с техническими характеристиками, конструк- цией и порядком работы с ЛТИ-502, отъюстировать оптическую схе- Включить и откалибровать ее согласно описцг Включить ИП ЛТИ-502 по инструкции. Снять зависимость выходной мощности от тока накач- для трех значений коэффициента пропускания выходного ( Т2 ), При снятии зависимостей фиксировать пороговые нпор . Данные занести в таблицу, постро- зеркала значения тока накачки I.., ить семейство зависимостей ^/7/fZ/? ПРЕ и длине резо- натора Д - 400 мм. Внимание! Перед сменой выходного зеркала, а также перед из- менением L необходимо: а) уменьшить 1Й до 10 А; б) выклю- чить силовую часть нажатием кнопки "Силовая выкл*. Снять зависимость Peb,x-/(f) । где /3 - угол разъюс- выходного зеркала. Фиксировать предельные значения . Снять экспериментальную зависимость7^ Повторить пп.3-6 дяя L » 550. 700 ш при TZcpi . Рассчитать пороговые коэффициенты усиления - длина активного элемента, 4 - 100 мм. а л Построить семейство зависимостей: Ptwrftt,) при' ДЛЯ 4 = 400,650 я 700 мы; тировки 6. 2 opt, у где 4 е 'л Opt
при Тг-Тг<,р1 для / = 400,550 и 700 мм; В) т2^Тгсрс ДЛЯ z = 400,500 и 700 им. 10. Рассмотреть с помощью визуализатора, используя корот- кофокусную линзу, структуру лазерного излучения для случая плоскопараллельного резонатора и ее изменение в зависимости от качества юстировки резонатора. Зарисовать распределение лазер- ного излучения по пятну. II. Выключить все приборы согласно описаниям. Контрольные вопросы I* Какие особенности рабочей схемы лазера на ЛИГ: Nd*''* 2» Какие существуют потери излучения в лазере? 3. Назовите условия возникновения генерации, 4, Как зависит выходная мощность лазера от коэффициента отражения выходного зеркала? лини» 5. От каких параметров зависит оптимальный коэффициент от- ражения выходного зеркала? 6. На какие характеристики лазерного излучения и как вли- яют тип резонатора, длина резонатора, качество юстировки, на- грев оптических элементов? Работа Я 3. ИЗУЧЕНИЕ МЕТОДОВ МОДУЛЯЦИИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ Цель работы - изучить методы модуляции добротности (пас- сивный и активный) резонатора лазера при непрерывной и импуль- сной накачках; экспериментально исследовать выходные парамет- ры и характеристики излучения лазера, работающего в режиме мо- дуляции добротности. Часть I. Пассивный метод модуляции Теоретическая часть Пассивная модуляция добротности основана на применении нелинейных элементов, оптическая плотность которых нелинейно
изменяется в зависимости от интенсивности проходящего через них На рис. I показан процесс развития в резонаторе гигантско- го импульса при пассивной модулях сяой накачкой. Кривая Pit) описывает изменение во времени мощ- ности генерируемого излучения; 2ea(t) - изменение во времени коэффициента резонансного поглощения фильтра на частоте генера- ции; N(t) - изменение плотности инверсной заселенности уровней активной среды. Исходное состояние соответствует непросветлен- ному фильтру В ЭТОМ СОСТОЯЛИ тности инверсной заселенности Nncp^x цесс формирования гигантского импульса состоит из двух этапов: этапа медленного (линейного) развития (длительность и этапа быстрого (нелинейного) развития (длительность этапа 10 нс). После высвечивания гигантского импульса коэффициент ре- зонансного поглощения фильтра за счет спонтанных переходов в фильтре снова возрастает. Время 7^ , в течение которого фильтр возвращается в исходное (непросветленное состояние), есть вре- мя релаксац IH5I51 добротности лазера с импуль- : пороговое значение што- достаточно велико. Про- I мкс) ИИ фильтра. Экспериментальная часть Оптическая схема лабораторной установки приведена на рис.2, где I - юстировочный лазер; 2 - активный элемент АИГ: №1 \
Рис. 2 3 - глухое зеркало лазера; 4 - выходное зеркало лазера; 5 - пас- сивный затвор ; 6 — источник питания МИЛ-31; 7 - осцилло- граф C8-I2; 8 - фотоприемник ФД24-К; 9 - ФРУ-62; 10 - делитель- ная пластина; II — нейтральные светофильтры; 12 - измеритель ИМО-2Н. I. Собрать и отъюстировать оптическую схему импульсного лазера для режима свободной генерации (без пассивного затвора). 2. Включить и дать прогреться всем приборам по инструкции. 3. Определить пороговое значение энергии накачки Ц/^для режима свободной генерации. где С = 75 мкФ, пороговое значение напряжения накачки. 4. Зарисовать осциллограммы импульсов тенора руемых фотодиодом, для трех значений энерг 5. Ввести в резонатор пассивный затвор - кристалл . • 3 и 4 для режима пассивной модуляции добротности. 6. Снять зависимость при пассивной модуляции. Рассчитать и построить зависимость для КПД лазера, работающего в режиме модуляции добротности Q -/(v^), q = ^г/щ'НМ . 7. Выключать все приборы. Г. , регистра- накачки IV; . Н'Л5 Повторить Itl ПС г.' Часть 2. Активный метод модуляции Теоретическая часть дм реализации режима работы лазера с активной модуляцией добротности в его резонатор помещают модулятор, управляемый^
внешкям сигналом. Под воздействие сигнала модулятор быстро из- меняет уровень вредных встарь в резонаторе - переходит из сос- тояния . соответствующего высоким потерям, в состояние, соответ- ствующее низким потерям, и обратно. Поскольку такие переходы совершаются в результате воздействия извне, то данный режим мо- чуляппи добротности резонатора называют активной модуляцией. Рис. 3 На рио. 3 показан процесс развития гигантского импульса при активной модуляции добротности резонатора. Кривая Р(I) описывает изменение во времени мощности гене- рируемого излучения; Qit) - изменение во времени добротности резонатора; - измерение плотности инверсной заселенности. В исходном состоянии имеем низкую добротность Q„.n и высокую начальную плотность инверсной заселенности /V, . Процесс гене- рации гигантского импульса состоит из двух этапов: относитель- но данного медленного (линейного) развития импульса (длитель- ность этого этапа t0 я 100 нс) и короткого этапа быстрого (не- линейного) развития (длительность 10 нс). Почти вся энер- ВЫСВ9Чивается иа втором этапе, поэтому длительность гигантского импульса принято измерять по длительности ^.Умень-
шение инверсной заселенности происходит практически лишь на этапе быстрого развития импульса. Время включения добротности - - это промежуток времен- им, в течение которого добротность возрастает от наименьшего до наибольшего значения. Если то говорят о быстром вклю- чении добротности (рис. 3). Если , то говорят о медлен- ном включении добротности. При достаточно медленном включении добротности картина генерации качественно меняется: вместо нди- яичного импульса могут высвечиваться несколько импульсов с по- стоянно уменьшающейся мощностью и возрастающей длительностью. Временной интервал мевду импульсами постепенно нарастает, изме- няясь от 100 нс до I мкс. Модулятор добротности на основе акустооптического затвора (АОЗ) представляет собой оптически прозрачное вещество, ъ кото- ром с помощью пьезоэлектрического преобразователя козбуипяатея ультразвуковая волна (кварцевое стекло для видимого диапазона, германий для ИК-диапазона). Вызываемые волной деформации приводят к формированию фазовой дифракционной решетки за счет локального изменения показателя преломления в слоях вещества, перемещающихся со скоростью звука. Период такой решетки равен длине волны акустических колебаний, а ее амплитуда пропорцио- нальна амплитуде ультразвука. Часть лазерного излучзкия будет дифрагировать на сформированной фазовой решетке и выходить из резонатора не усиливаясь, что приводит к изменению добротности резонатора. При большой длине взаимодействия света с акустической вол- ной и при высоких частотах имеет место так называемая дифракция Брэгга. В этом случав дифракционный спектр состоит из двух мак- симумов, соответствующих порядкам дифракции л* - 0 и /z« = I. Дифракционные максимумы минус первого и высших порядков отсут- ствуют. Интенсивность первого максимума будет наибольшей, если излучение падает под углом к волновому фронту акустической вол- ны, удовлетворяющим условию Брэгга: Si/г &е = % f > где д - длина световой волны в веществе; длина звуковой волны. Угол f)s называется углом Брэгга. Акустооптический затвор МУ-301,используемый в лабораторной работе, работает в режиме 15
дифракции Брэгга. АОЗ размещен на столике, позволяющем осущест- влять поворот вокруг горизонтальной оси для проведения юстиров- ки по углу Брэгга. Ширина звукового столба в звукопроводе АОЗ составляет 3 мм (при толщине эвукопровода 12 мм). Для совмеще- ния столба ультразвуковых волн с пучком лазерного излучения при юстировке и настройке необходимо перемещать АОЗ в направлении, перпендикулярном к пучку излучения. Питание АОЗ к контроль мощности осуществляются со стойки СПО. Модулятор на основе сканирующего интерферометра Фабри-Перо (СИФП) представляет собой две параллельно расположенные стеклян- ные пластины с нанесенными на внутренние поверхности отражающи- ми покрытиями. Расстояние между отражающими покрытиями называют базой интерферометра. В результате многократного переотражения света происходит интерференция лучей» В зависимости от разности фаз между интерферирующими лучами может происходить их взаимное усиление либо вычитание. Для данной длины волны разность фаз будет определяться ве- личиной базы ОИФП. Изменяя базу СЙФП по определенному закону, можно изменять его коэффициент пропускания (отражения). На этом принципе построена работа СИФП и модулятора на его основе. Одна из пластин СИФП крепится к цьезокерамике, на которую подается управляющее напряжение, следовательно, эта пластина будет совер- шать колебания вместе с пьезокерамикой по управляющему закону. Если коэффициенты отражения пластин равны и то при изменении базы СИФЛ полный коэффициент отражения интерферо- метра в своих предельных значениях будет составлять: Поместив СИФП на место выходного зеркала лазера, будем из- менять его коэффициент отражения. Это приведет к изменению доб- ротности резонатора лазера по управляющему закону. Вид формируй с! 1 ТНИЯ бУДвТ 3аВИСвТЬ 01 Харрис™* управл=; гнала от динамики процессов генерации внутри резонатора. Экспериментальная часть Собрать оптическую схему твердотельного лазера с непрернв- ч
ной накачкой, работающего а режиме активной модалящм добротно- ста (рис. 4) я произвести ее юстировку. На рис. 4: I - юстиро- вочный лазер ЛГ-66; 2 - глухо о зеркало лазера; 3 * активный эле- мент; 4 - модулятор на основе АОЗ; 5 - модулятор на основа СИФП; 6 - ИСТОЧ1 к питания ЛТН-502 с блоком витания; 7 - блок питания и управления СИФП; 8 - делительная пластина; 9 - ФЭУ-62; 10 - осциллограф С8-12; II - светофильтры; 12 - поглощающий конус. Изуче ние сабо ты АОЗ добиться появления генерации, генерации для нескольких зна- питания а управления АОЗ. За- > пг.г I. Включить источник питания ЛТН-502. Подать напряжение смеще- ния на СИФП (выставить начальный коэффициент пропускания СИФП) 2. Включить силовую часть ЛТН-502, Зарисовать осциллограммы свободной некий тока накачки. 3. Включить согласно описанию блок рисовать осциллограммы импульсов генерации и улравля сов, подаваемых на второй вход осциллографа: а) для нескольких значений частоты управляющих импульсов при неизменной их длительности , б) для нескольких значений яри ' 4. Выключить источник питания АОЗ, силовую часть ЛТИ-502, блох 17
Исследование модулятора на основе СИФП J «да Хе* =» • »—• ом. коэ^хМдиент пропускания на СИФП С Ucm I даовать осциллограммы ^пульсов генерации и управляющих импульсов с амплитудой L упр • . а) для нескольких значений /у,у» ПРИ Uynp ~ссл^ ’ // ( // -О’ 30 В) па резонансной частоте. при изменении 6^ I “ и...ои dj Выключить все приборы согласно описаниям. б) Контрольные вопросы 1. 2. Чем определяется режим свободной генерации лазера? При каких условиях лазер работает в режиме модул/ шт добро?-' ности? 3« Какие устройства можно использовать для модуляции добротно- сти? 4. В чем отличие активной модуляции добротности от пассивной модуляции? 5. Объясните принцип работы пассивных затворов. 6. Какое явление лежит в основе принципа работы АОЗТ 7. Объясните принцип работы модулятора на основе СИФП. Работа М 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ГЕНЕРАЦИИ ВТОРОЙ ГАРМОНИКИ Цель работы - изучить условия возникновения нелинейных опти- ческих явлений,исследовать процессы генераций 2-Й гармоники. % Теоретическая часть Электромагнитные поля обычных источников света характери- зуется величиной электрической напряженности Е = Ш00 В/см, что значительно меньше напряженности электромагнитных полей в атомах и молекулах вещества Е - I0& т 10$ В/см, а следователь- 18
но, прохождение таких световых пучков через вещество не будет изменять его характеристик. Лазерные же исто™ ноэвоХ получать электромагнитные поля напряженностью 10? - 10^ в/см и выше, что соизмеримо с напряженностью полей в веществах. По- хождение лазерного пучка через вещество приводит к изменению его характеристик в зависимости от интенсивности излучения в частности изменяется да Электрою ская восприимчивость Предположим, что и(Е)~а?^Ер результате поляризация даелек- трина Р^о^Е/Е-ърР+^Е будет описываться квадратичным зако- ном. Отклик среда на интенсивный лазерный пучок оказывается не- линейным. Одно из нелинейных явлений - просветление среды под воздействием лазерного излучения, изучалось при исследовании модуляторов на основе пассивных затворов. В нелинейных средах могут иметь место и явления взаимодействия световых волн, в результате которого возникают световые вольы на других часто- тах. Пусть в среде распространяются две световые волны с часто- тами и a Р=о^Е\ где £=£>^^^^4),, тогда Р -- ^{^(соза)л ^с0зи)2) ^о(1Еб21_со^(сл)1-/-а)2)± + -i-co^l > ^CO3(2a)2)t ±j_]. Следовательно, в среде возникают волны с частотами + » 9 2 $ , 2 . Аналогично, световая волна частоты , проходя нелинейную среду, может взаимодействовать сама с собой, приводя к образованию волны частотой 2) .в этом случае из- лучается вторая гармоника. Чтобы происходила передача энергии от исходной световой волны во 2-ю гармонику,необходимо, чтобы скорости указанных световых волн в среде совпадали, т.е. дол- жны совпадать их показатели преломление в среде 4, и . Данное условие может быть выполнено, если воспользоваться осо- бенностями прохождения световых волн через кристаллы. Плоскость главного сечения - плоскость, проходящая через оптическую ось кристалла и направление распространения вотан. Световая волна в кристалле превращается в две о различав ростами и поляризациями: I) обыкновенная волна с показателем преломления fl « независящим от направления распространения волны в кристалле, и поляризацией,перпендикулярной плоскости главного сечения; 2) необыкновенная волна, характеризующаяся л от угла & между оптической осью кристалла око- ПГ1
I ж направлением распространения в нем волны, и поляризованная в плоскости главного сечения. " главные значения пока- зателей преломления средн. I На рис. I показаны сечения индикатрис показателя преломле- ния плоскостью, проходящей через оптическую осы а) отрицатель- ный одноосный кристалл, б) положительный одноосный кристалл. Рис. I С ростом частоты показатели преломления кристалла увели- чиваются. На рис, 2 доказаны сечения индикатрис показателя пре- Рис. 2 локления отрицательного одноосного кристалла для основной час- сплотные линии) и второй гармоники (штриховые линии). 20
к оптической оси возможно выполнение условия носит название угла синхрони- В качестве кристаллов с нелинейной поляризацией применяют Под углами 6> к оптической оси возможно выполнение условия волнового синхронизма. Угол 6» носит название угла синхроны- зма. В качестве кристаллов с нелинейной поляризацией применяют кристаллы дигидрофосфата калия t дидейтерофоефнта калия DKPP , дигидроарсеълта цезия CDA , ниобата лития. Йодата ли- тия и др. Максимальное значение интенсивности второй гармоники достигается на так называемой когерентной длине: На расстоянии происходит перекачка мощности из основного из - лучения во 2-ю гармонику, а затем опять же на расстоянии происходит обратная перекачка мощности А Г I , _ i *> _ - . м . _ 4 1 где 4^ = ^—* волновая расстройка, I/, интенсивность падающего излучения на частоте; » (б2 - коэффициенты нелинейной связи. Рассмотрим условие точного выпел *ения фазового синхрониз- ма = 0. Эффективность преобразования во 2-ю гармонику в этом случае будет определяться по формлуе: .? =7ф^г = tK^ ’ где L(t) * интенсивность преобразованного излучения на длине Z. Описание лабораторной установки В данной лабораторной работе исследуется внерезонаюрная генерация 2-й гармоники на кристалле KLP (рис. 3). Для уво- Рис. 3 личения интенсивности пада (его ется пассивный затвор на основе ляется дисперсионным элементом» излучения в резонатор ломеща- LiP . Применяемая сриэыа яв- разделяющим две длины волны. 21 »к
„оплпитея с помощью измерителя ИМО-2Н, Измерение энергии производится . Экспериментальная часть схему для режима свободной генерации. I, Собрать оптическую схему w я __ ----_ 2. Включить I 3. Снять зависимость морениях 4. Ввести в мума 5. Снять зависимость а'йа,т отклонение I . 6. Снять зависимость 6* ц/ --} ( WH) . 7. Рассчитать нику КПД = 1„ С помощью ИМ0-2Н -Й гармоники добиться мини- о характеризует m «.-.да . ^3 . - оптическую схему кристалл КРР , мяклимп’МУ генерируемой энергии . расстройки. Определить угол синхронизма в _ -• ,^x^^F(a), где ОС — оптической оси кристалла от угла синхронизма. шимош г’3л,х * КПД лазера с учетом преобразования во 2-ю гармо- ЮО? = У 6VJ . 8 Рассчитать коэффициент преобразования 2-й гармоники _ и/л l-'kx^./ЛЛО/ ,£н О 9. Ввести в резонатор пассивный затвор. Повторить пункты 3 для режима модуляции дооротности. ХО. Выключить все приборы по инструкции. Контрольные вопросы I. Какие фазические явления лежат в основе генерации 2-й гармо- ники? 2. Назовите условие волнового синхронизма. 3. Объясните понятие когерентной длины кристаллу. 4. Что такое угол синхронизма? 5. От чего зависит эффективность пре образования во 2-ю гармонику? Литература I» Тарасов Л.В» Физика процессов в генераторах когерентного оп- тического излучения. - М.: Радио и связь, 1981. - 440 с.; ил. 2. Пахомов ИХ, Рожков О.В квантовые приборы. - М.: Радио и связь, 1982. - 456 с. Рождествин В.Н. Оптико-электронные 22
э. Лазерная техника и технология: L 7 кн. Кн.1. Физические осно- вы технологических лазеров: Учеб.пособие для кузов /В.С.Голу- бев; Ф.В.Лебедев; Под ред. А Г.Григорьянца. - М.; Быипая окола, 1987. - 191 с.; ил. 4. Иващенко П.А., Калинин Ю.А., Морозов Б.Н. Измерение парамет- ров лазеров. - М.: Издательство стандартов, 1982. - 168 с. 5. Дмитриев В.Г., Тарасов А.В. Прикладная нелинейная оптика. Генераторы второй гармоники и параметрические генератора сва- та. - М.: Радио связь, 1982. - 346 с.
Содержание Предисловие *•••-•* fhOc-T'* I* I...... Работа № ....... Работа P 3......* • * Работа