\
Московский ордена Октябрьской Революции ч и ордена Трудового Красного Знамени государственный технический университет им. Н.Э.Баумана
Е.В.АРБУЗОВ, А.В.СГИБНЕВ, ВД.ШАШУРИН, Ю.Ф.АБАКУМОВ
ОБЕСПЕЧЕНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ТОЧНОСТИ С&РКИ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ СИСТЕМ АВТОМАТИЧЕСКОГО УПРАВЛЕНИЯ
Методические указания по выполнению домашнего задания
Под редакций А.В.Сгибнева
Издательство МГТУ
1994
методнмес>*иа указания издаются в соответствии с учебным планом,	_
Рассмотрены и одобрены кафедрой 02.03.93г., методической комиссией факультета.
Рецензент к.т.и. Ботяшии В.Н.
Авторы: Е.В.Арбуэоа
А.В.Сгибнеа
В.Д.Шашурин Ю.Ф.Абакумов
Московский государственный технический университет им.Н.Э,Баумана
ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение—*--————	---------------------- 4
1.	Теория обеспечения технологической точности электронных устройств.- ----- ------------------------------------------- 4
2.	Методы определения коэффициентов влияния в уравнениях погрешностей выходных параметров электронных устройств------- 7
3.	Расчет допусков иа элементы усилителя постоянного тока на основе операционного усилителя --------------------------- 8
3.1.	Неинвертирующее включение ОУ----------------------- 11
3.2.	Инвертирующее включение ОУ------------------------ 16
4,	Варианты задания--------------------------------------    17
5.	Порядок выполнения домашнего задания--------------------- 18
Литература-------———-________________________________________18
Редактор Н.А.Давыдова
А.В.Воробьев
Заказ
Бесплатно
Объем 2 л.л.	Тираж 300 экз.
Подписано к печати 20.10.94 г.
4
Введение
Электронные устройства занимают особое место в обеспечении функционирования систем автоматического управления. Их характеризует разнообразие и сложность конструктивных решений, непрерывно повышающиеся требования к точности и надежности при работе в сложных условиях эксплуатации. При этом надо иметь ввиду, что расчет погрешностей выходных параметров устройств не может быть полным * без учета технологического фактора. Бопее того в ряде случаев именно от этого фактора зависит конечная точность изделия, определяя тем самым необходимость изменения или даже полного отказа от предлагаемой конструкции. Ниже рассмотрены вопросы, связанные с обеспечением технологической точности сборки электронных устройств САУ.
1.	Теория обеспечения технологической точности электронных устройств.
Технологический процесс производства электронных устройств характеризуется циклом последовательных операций изготовления деталей и сборочных единиц комплектующих изделий. В результате комплексного воздействия множества случайных и систематических внешних и внутренних факторов, действующих в производстве, иа каждой операции имеют место колебания технологических режимов, геометрических параметров заготовок, физико-механических и электрофизических свойств материалов и т.п. Следствием этих воздействий являются погрешности выходных параметров изделий.
В соответствии с техническим заданием отклонения от номинальных значений параметров деталей, сборочных единиц и всего устройства в целом должны находиться в пределах допусков. Степень соответствия параметров изготовленных изделий установленным допускам определяет их технологическую точность.
Практически для каждой технологической операции, анализируя точность технологического процесса, можно вскрыть причины возникновения производственных погрешностей, обосновать технологические допуски. Это позволяет правильно настроить операции и весь технологический процесс и выбрать экономически обоснованный метод достижения требуемой точности.
Под производственными погрешностями понимают отклонения параметров от номинальных (указанных в технической документации) значений, которые возникают в процессе изготовления деталей и сборочных единиц электронных устройств.
Производственные погрешности подразделяются на две группы: систематические, которые вызываются детерминированными причинами и могут быть постоянными во времени или переменными, т.е. изменяться во времени млн в пределах партии по опредепенмому закону;
случайные, изменение величины и знака которых носит статистический характер.
Систематические погрешности вызываются различными причинами, основными из которых являются:
-	методические, которые возникают из-за ограниченных возможностей метода изготовления детали, погрешности контроля ее параметров, замены точных формул приближенными при технологических расчетах;
-	неточность изготовления технологической оснастки (приспособлений, рабочего и вспомогательного инструмента);
-	деформация и износ оборудования и технологической оснастки;
-	температурные воздействия на деталь или сборочную единицу в эоне обработки.
Случайные производственные погрешности определяютсв:
-	неоднородностью сырья;
5
-	отклонениями параметров комплектующих изделий (резисторов, конденсаторов, транзисторов, ИС и др.);
.	наличием паразитных связей между элементами схемы;
-	колебаниями операционных технологических режимов;
-	субъективными данными рабочих и т.д.
Дне описании случайных производственных погрешностей используются различные законы распределения, однако наиболее часто - нормальный закон распределения ( закон распределения Гаусса).
Использование закона распределения Гаусса для описания случайных Гфоизаодственмых погрешностей возможно при соблюдении случайных условий:
-	обща* погрешность представляет сумму частных погрешностей, вызванных действием значительного числа случайных факторов и некоторого числа первичных систем систематических факторов;
-	среди частных погрешностей нет доминирующих, т.е. влияние на общую погрешность одного порядка;
-	все случайные факторы взаимно независимы;
-	число случайных факторов и параметры вызванных ими частных погрешностей не изменяются во времени;
-	число систематических факторов н значения вызванных ими частных погрешностей остаются одинаковыми.
Такие условия создаются при массовом производстве деталей и сборке электронных устройств на автоматически работающем оборудовании.
В общем случае выходной параметр любого электронного устройства Q является функцией многих переменных ( независимых параметров элементов схемы) и его можно выразить уравнением
Q = t ( ql, q2, .... qi, .... qn ),	(1)
где ql • влияющий параметр, a n - их количество.
В реальных условиях значения влияющих параметров (параметры элементов схемы) под действием дестабилизирующих факторов технологических процессов всегда отличаются от номинальных. Это, в свою очередь, вызывает технологическую погрешность выходного параметра. Сделав допущения, что отклонения параметров малы, изменения параметров в пределах поля допуска линейны, а также если пренебречь членами второго порядка малости по сравнению с членами первого порядка, можно установить функциональную зависимость между производственными погрешностями выходного параметра и параметров влияющих элементов, используя правила дифференциального исчисления. Возьмем полный дифференциал выражения (1) и, перейдя к конечным приращениям, получим ^0	№	7Q
AQ +3^tAql + ... +^aqi + •••	(2)
Твк как погрешности параметров имеют различные размерности, то ДЛЯ удобства расчетов используем относительные величины, разделив (2) на
ёГ =	+^а +(3)
Проведя алгебраические преобразования, имеем:
^>еиы, стоящие перед абсолютными и относительными погрешностями п*Рв*яотров, называются коэффициентами влияния и показывают, какой ИЛДД каждая из них вносит  погрешность выходного параметра. Уравнение (4) можно переписать в виде:
6
(5)
на
i a = Хнч« +Xl?ql + ... +Xniqn ^ifqi
'Q - относительная погрешность выходного параметра-
С q. - относительная погрешность параметра элемента схемы:
•' - коэффициент влияния погрешности i-ro параметра схемы погрешность выходного параметра	Н
7.-1^ ‘К
Х'-	(х,	(8)
Так как производственные погрешности носят случайный характер то при суммировании независимых составляющих относительной погрешности выходного параметра воспользуемся основными правилами теории вероятности:	алгебраическим суммированием средних значений;
квадратичным суммированием Среднеквадратических отклонений.
Используя указанные выше правила суммирования, определим допуск на выходной параметр с Q, его математическое ожидание и среднеквадратическое отклонение по заданным допускам на параметры элементов cqi и по известным средним значениям
S'а =
(S’Cq)
М(бЬ] =Zo(i Mpqi)
(Л
(8)
(»)
Полученные уравнения справедливы а том случае, если распределения производственных погрешностей параметров элементов подчиняются нормальному закону распределения и между ними отсутствует статистическая связь.
Каждое электронное устройство может характеризоваться несколькими выходными параметрами т. В этом случае его точность описывается системой m уравнений
Pqi = Qpi&fl* I
S dm = {TinTqij7’ J
Решение уравнений- (10) позволяет при заданных допусках на параметры элементов определить допуски на выходные параметры, а также при заданных допусках на выходные параметры найти допуски на параметры элементов схемы.
Первая задача называется прямой задачей расчета точности электронных устройств. Ев решение дает возможность оценить каше погрешности величин выходных параметров схемы возможны и будут ли они находиться в пределах заданных допусков, если параметры схемных элементов имеют отклонения от рассчитанных либо номинальных значенйк. Решение второй из указанных задач - обратная задача - обеспечивает назначение рациональных допусков на параметры ^элементов схемы, обеспечивающих значения выходных параметров реальной схемы в пределах допусков, заданных по техническим условиям.
Причем, под рациональными понимаются допуски, которые обеспечиваются технологическими процессами при серийном производстве элементов. В противном случае необходимо применять селективную сборку либо вводить в схему регулировочные элементы.
Часто оказывается, что обратную задачу решить невозможно, тан мк число неизвестных превышает число уравнений. В этом случае используется метод последовательного приближения, т.е. неизвестным допускам м* параметры злеменго» придают значения до тех пор, пока расчетное
значение допуска на выходной параметр не станет меньше или равно заданному допуску на выходной параметр.
Полученные при аналитическом методе анализа зависимости справедливы только в тех случаях, если распределения составляющих погрешностей подчиняются нормальному закону распределения, симметричны относительно среднего значения, поля рассеяния совладают с полями допуска и между ними отсутствует статическая связь (коэффициенты корреляции равны нулю).
2.	Методы определения коэффициентов влияния в уравнениях погрешностей выходных параметров электронных устройств
Решение прямой задачи (определение погрешности выходного параметра) и решение обратной задачи (назначение допусков на параметры элементов схемы) может быть осуществлено, если определены коэффициенты влияния, как это следует их нормированных уравнений погрешностей электрической цепи (10).
Существует несколько -методов определения коэффициентов влияния в уравнениях погрешностей выходных параметров, но наибольшее распространение получили аналитический метод (прямого дифференцирования) н экспериментальные * метод малых приращений, на основе планирования эксперимента, метод статистических испытании н др.
Для определения коэффициентов влияния при использовании аналитического метода необходимо*.
1)	взять частные производные выходного параметра по каждому из параметров деталей;
2)	умножить полученные производные на отношение параметра qr-ro элемента к значению выходного параметра;
3)	иайти численные величины, подставив номинальные значения параметров в полученные выражения коэффициентов влияния.
Метод прямого дифференцирования применяется при условии, что имеется строгая математическая модель, связывающая выходную характеристику со всеми параметрами элементов электронного устройства, сопровождается статистически строгой оценкой адекватности полученного уравнения и значимости его коэффициентов. Если получение такой модели в аналитической форме невозможно, то используют экспериментальные методы.
Из экспериментальных методов для определения коэффициентов влияния часто применяется метод малых приращений. Он основан на линейности уравнения погрешности выходного параметра н принципе независимости действия погрешностей. Это позволяет анализировать действие каждой составляющей погрешности отдельно, полагая остальные погрешности равными нулю. Уравнение (5) в этом случае принимает вид
АО . ДЧ1 	 =<*1 	 Q------------ql
откуда
• , да д qi
<<= — : —	(И)
Q ql
Для реализации этого метода собирается изделие с парамертамн элементов, принятыми за номинальные. Последовательно изменяя значение каждого параметра (в пределах 5...10%) при неизменных остальных, приращение выходного параметра н по уравнению (11) коэффициенты влияния. Погрешность определения коэффициентов влияния методами малых приращений в значительной степени зависит от выбора
8
измерительной аппаратуры и принимает малое знамение лишь . том случае если аппаратурная погрешность по крайней мере на порядок меньше чТ.1 приращение параметра элемента и выходного параметра
Кроме рассмотренного метода для определения коМхЬициенто. влияния применяется метод преобразованных цепей /2/. Сущн?с?ь мегом состоит В ТОМ. НТО погрешность выходного параметра, возникающая*b результате наличия погрешностей в элементах схемы, как бы, отделяется от самого параметра и изучается отдельно в более крупном масштабе
Для этого разрабатывается преобразованная цепь, которая получается на эквивалентной расчетной закорачиванием полюсов подключения входного сигнала (если сопротивление источника равно нулю) и образованием иовых входных полюсов в месте включения погрешности (рис.1).
При этом коэффициент влияния«<| будет равен:
< i = icd.ef f igf.cd cos (Oicd.ef -+6igf,cdL	(12)
где icd.ef - модуль функции передачи основной цепи, определяемый как отношение напряжения на элементе схемы (коэффициент влияния которого определяется) к напряжению на выходе цепи:
v icd#,ef - угол сдвига фаз между этими напряжениями; igf.cd - модуль функции передачи преобразованной цепи, определяемый как отношение напряжения на выходе к напряжению на входе; П t)igf,cd - угол сдвига фазы между этими напряжениями.
Экспериментальный метод определения коэффициентов влияния заключается в том. что основная н преобразованная цели реализуются физически, причем для удобства измерений создаются их модели, работающие на более низких частотах (400 ... 1000 Гц), что дает возможность исключить влияние паразитных параметров. Для обеспечения идентичности процессов, происходящих в реальной схеме Н в модели, необходимо, чтобы омические сопротивления в модели равнялись сопротивлениям реальной схемы. Причем модели целей могут быть собраны из элементов, имеющих погрешности, и измерения могут производиться обычной измерительной аппаратурой, так как на погрешность такого определения коэффициента влияния, умноженная на саму погрешность параметра элемента схемы, представляет собой малую величину более высокого порядка малости. На рис.2 в качестве примера приведены схемы основной и преобразованной цепей для определения коэффициента влияния С<Я2.
3. Расчет допусков иа элементы усилителя постоянного тока на основа операционного усилителе
Операционный усилитель (ОУ) - это усилитель постоянного тока, имеющий коэффициент усиления порядка нескольких тысяч млн десятков тысяч, с согласованными уровнями постоянного напряжения на их входах и выходах, и применяемый а качестве активного элемента в схемах УПТ с обратными связями. ОУ имеет два входа и одни выход. В зависимости от того, иа какой вход подается входное напряжение, различают неинвертирующие и инвертирующие схемы включения ОУ (рис.З). В качестве нагрузки могут быть использованы пассивные корректирующие звенья.
Основными параметрами усилителя является амплитудко- частотная характеристика, представляющая собой зависимость коэффициента усиления от частоты. Требуется назначить допуски на параметры элементов схемы (резисторы, конденсаторы, ОУ) так. чтобы обеспечивалась веданная точность амплитудно- частотной характеристики, которая оценивается величиной относительного допуска коэффициента усиления. Это может быть достигнуто уменьшением допусков на элементы, имеющие
9
0С*Об**Я CJGAM
Ь

Ucd ---ft d
Рмс.1 Методика формирования преобразованном схемы
10
) )
1 )
Преобразованная схема
Рис.2 Примеры основной и преобразованной целен для определение коэффициента впияиияо^ВЗ
11
наибольшие коэффициенты влияния.
Уменьшение допусков может осуществляться либо за счет повышения класса точности элемента, либо введением селективного отбора.
3.1.Неинвертнрующее включение ОУ
Коэффициент усиления УПТ на базе ОУ в неинвертнрующем включении определяется ло формуле /3/
1 + R3/R1*
Ky.VH = -------------;----------------- ( 1 3)
1 + (1 + R3/R1 J/Kbi. Ky.v Квых. где
Квх. » Rex-fl./lRei-fl. + R2 1	(14)
коэффициент передачи входной цели,
Квых. = Rh./(Rh. + Rebix. )	(15)
коэффициент передачи выходной цели,
R1 - Rll2R8X.c0)HRex-A* + 2Rbx^||R2) ,	(16)
Rh= R4)|[R3 + К1||2Квх.сф1|(Кв1.д. + R2||2Rbx.c0J),	(17)
Rbx-д. • входное сопротивление дифференциальному входному сигналу, Rebix. - выходное сопротивление операционного усилителя, Нвх.сф. - входное сопротивление синфазному входному сигналу, Кул - коэффициент усиления ло дифференциальному входному сигналу,
Кос.сф. • коэффициент ослабления синфазного входного сигнала.
Выражение (13) для коэффициента усиления можно представить в виде
Квх. Кул Квых.
Кули =----------------------- (18)
1 + Кос Квх. Ky,v Квых.
где Кос. = R1*/|R3 + R*) -	(19)
коэффициент передачи обратной связи.
Относительная величина погрешности коэффициента усиления определяется по следующему выражению:
ДКу,¥и	А Квх.	А Кул	А Квых.
	 = Акы. - + Акул 	 ♦ Аквых. 	 ♦ (20) Кули--------------------------------------------------Квх.	Кул-Квых.
А Кос.
4 Акос. --------
Кос.
где д Кули дКвх. ДКвых. лКос.
Кули Квх. Квых. Кос.
- относительные погрешности в коэффициентах передачи;
Аква* А Кул, Аквыв., Акос. - коффициенты влияния,
12
Аки. — Akv.v = Ак.ых. = -
Q К»,«и
О~кГ~
KI
Кули
(21)
9 Ку.ки
АКос. —	-
Кос.
Кос.
Ку,ун
В соответствии с выражением (14) цепи можно представить в вида
Квх. = У Ках (Ri),
где Ri - параметры элементов цели.
Относительная величина погрешности коэффициента передачи цепей определяется ло следующей формуле:
Л Квх.	£	aR|
----	=2 (XilK.x х —
Квх.	X	Ri
коэффициент
передачи
(22)
•тодиой
(23)
•ходик»
(24)
где aRi/ Ri - относительные погрешности параметров элементов цепи;
Q ’Рквх.	№
НПКвх. = J--------- X п-------
0 Ri j Квх.
(25)
коэффициенты влияния элементов для входных целей.
Аналогично для выходных целей н цепей обратной связи можно записать
Квых. = £ 1К|)КкtX. flRil  RI
И1|к«ыт. ------------- * ..-----
О RI У К...
Кос. = У Кос. (Ri)
$ Кос. = £ t/ilKoc § Ri гэУ Кос	Ri
('Xi)Koc.
Кос.
(24)
(2?)
(28)
(2»)
(30)
(31)
Такие элементы цели, входящие в формулы коэффициентов передачи (14), (15). (16), как Hit Rm. функционально связаны с другими элементами цели:
(32)
Ri =	fRI (Rjl
Тогда относительная величина погрешности параметре элементе цели может быть записана в виде
£ R) = 1 tX)hl‘R)
(»)
13
Рис.4 Эквивалентные схемы входной цепи при неинвертирующем (а) и инвертирующем включении ОУ
Рис.5 Эквивалентная схема цели обратной связи при неннвертирующем включении ОХ
14
Рнс.6 Эквивалентная схема выходной цепн.
15
a)
Неимвертирующвв (в) и инвертирующее (б) включение ОУ в схемах
16
(34)
(35)
где !>l	Rl
KilRI = ----- X ------
fi Ri	fni
кэффициенты влияния i-тых элементов схемы на i-ые элементы
Учитывая изложенное выше, уравнение (20) можно представить так:
А Ку,»н	д Ку,у	д R]
	 - АКу.у 	+ / К)|Ку,ун - Ку,УН-------------------------------------Ку.у J--1	R]
где
(XilKy.yH = Аквх. К(|Кя«. KllRI + Ак.ьи, КНквых. Kilul + Акос. кНкос. К))м (36)
При переходе к предельным отклонениям (допускам) уравнение (35) примет вид
Р Ky.VH = I (Акул У Ку,v) + Z [tX||Ky.«H f»!]2
(37)
3.2.Инвертирующее включение ОУ
Коэффициент усиления УПТ на базе ОУ а инвертирующем включении определяется по формуле /3/
R3/R1
Ky,VH =	R3	111
1 + -------------- х (---+-----+ ----------1	(34
Квх. Kyv Квых. R3 R3 Rbxj|.+R2
где значения величин, входящих в формулу, такие же как и для коэффициента усиления в неинвертирующем включении. Эта формуламожет быть преобразована к виду:
Квх. Kyv Квых.
Кули  -----------{------------~т—	(ЭД
1 + К ос. Квх. Kyv КвыхТГКД
где К*ос. = R1/R3 (39)
коэффициент передачи обратной саязн:
Кл = IL+_
R3 Rbx-д. + R2
поправочный коэффициент.
Далее, производя . выкладки, аналогичные выкладкам дм инвертирующего включения, окончательно получаем
___________________________________
Р Ку.ун =>| (А*Ку,у "ку.у)2 + .2. [(ЧЦку.ун Р1 Ий	И’>
где
1?
’	.<	.1	<е Кули	Ki
Д Ky.v — A Kei. — А Кеых. e -------- ----------
Ki	Kyv.M
(42)
А Кос.	<4 Ку.УИ =	—з	 Л Q К ОС.	К ос. Кум.н	(43)
А КА	Ky.VH	КА	(44)
	КД	Куу,н	
MlKy.v. = a’ Km. KHk«i. Kll»i + A1 К.Ш. (Z||k..i<. (X||r| + А Кос Ki'IKoc. KjjRi +
+ Aka (Xi)KA «jlsi	(45)
Коэффициенты влияния находятся аналогично нахождению коэффициентов влияния для неинвертирующего включения.
4. Варианты задания
Относительная погрешность коэффициента усиления усилителя для всех вариантов недолжка превышать +-5%.
ы -	о>	Вкц^ч	RI.kOm	R3, кОм	RZtftOM,	R4,kOm
1.	Н140УД8	Неинв,	0.36	3.3	0.33	5.0
2.	К140УД8	Ииа.	100.0	1 000.0	91.0	5.0
3.	К153УД2	Неинв.	0.11	4.3	0.10	5.0
4.	К140УД7	Некие.	0.39	3.9	0.36	2.0
5.	К140УД7	Ине.	51.0	510.0	47.0	2.0
4.	К140УД7	Инв.	20.0	180.0	18.0	2.0
7.	Н153УД1	Неинв.	0.24	2.7	0.21	5.0
8.	К1 53УД1	Инв.	6.1	56.0	5.6	5.0
9.	К140УД7	Неинв.	0.081	3.3	0.075	5.0
10.	К140УД7	Инв.	8.2	430.0	7.5	5.0
11.	К153УД2	Неинв.	0.20	3.9	0.18	10.0
12.	К153УД2	Икв.	12.0	240.0	11.0	5.0
13.	К153УД2	Неинв.	0.27	2.2	0.24	5.0
14.	К153УД2	Инв.	15.0	100.0	13.0	5.0
15.	К153УД1	Неинв.	0.43	2.2	0.36	5.0
16.	К153УД1	Инв.	10.0	47.0	8.2	5.0
17.	К140УД7	Неинв.	1.0	12.0	0.91	10.0
18.	К140УД7	Ина.	5.1	75.0	4.7	10.0
19.	К153УД1	Неинв.	0.43	3.9	0.39	10.0
20.	К153УД1	Инв.	10.0	100.0	9.1	10.0
21.	К153УД2	Неинв.	0,18	1.8	0.16	10.0
22.	К153УД2	Инв.	10.0	240.0	10.0	5.0
23.	К140УД8	Инв.	30.0	150.0	24.0	2.0
24.	К140УД8	Неинв. -	0.39	2.4	0.33	2.0
25.	К140УД8	Неинв.	0.47	3.0	0.39	5.0
26.	К140УД8	Инв.	51.0	200.0	40.0	5.0
27,	К140УД8	Неинв.	0.3	3.0	0.27	10.0
28.	К140УД8	Инв.	14.0	240.0	22.0	10.0
29.	К153УД1	Ненив.	8.51	5.1	0.47	10.0
30.	К153УЩ	Икв.	12.0	120.0	глл	10.0
18
5. Порядок выполнения домашнего задания
1.	Вычертить принципиальные схемы УПТ на базе ОУ • неинвертирующем включении. Вычертить эквивалентные схемы для средних частот для входных и выходных целей усилителей и цепи обратной связи.
2.	Принять номинальные значения параметров целей по расчетам, выполненным в домашнем задании по курсу '‘Электронные устройства автоматических систем" (или по вариантам заданий)
3.	Вычислить значения Куч ниу, Kyv му и элементов КГ, R
4.	Определить коэффициенты влияния Ак ах, А к yv. А к вых, А к ос, А кддля иеинвертирующего и инвертирующего включения ОУ.
5.	Определить расчетным путем коэффициенты влияния элементов схемы на коэффициент усиления на средних частотах.
6.	Назначить, используя метод последовательных приближений, экономичные допуски на элементы схемы усилителей н ввести лрн необходимости селекцию ОУ, обеспечив заданный допуск иа коэффициент усиления усилителя (< 5%).
7.	Оформить результаты расчета допусков на элементы схемы и сделать необходимые выводы.
Примечание: Допуски радиотехнических элементов:
1.	Допуски на параметры ОУ - +-30%.
2.	Допуски на сопротивления:
Класс точности I If III
Допуск, +- %	5	10	20
Литература
1.	Технология и автоматизация производства радиоэлектронной аппаратуры: Учебник для ВУЗов/ И.П.Бушминский, О.Ш.Даутов, А П.Достанко и др.: Под.ред. А.П.Достанко, Ш.М.Чабдароаа.
2.	Сгибнев А.В., Арбузов Е.8. Определение технологической точности выходных параметров усилителей автоматических систем: Методические указания. М.: МГТУ, 1987. - 12 с.
3.	Орлов Г.А.. Токарев А.К. Расчет усилителя автоматической системы с двигателем постоянного тока. - М.: МГТУ, 1983- - 54 с.